A 高性能便攜式超聲波檢測儀特優點→ 全中文菜單式友好操作界面,方便快捷;→ 亮彩色液晶顯示,可根據不同現場環境改變;→ 超聲衍射波成像檢測,解決傳統放射檢測的掃查厚度及檢測效率局限性,節約探傷成本;→ 集A掃、B掃成像、C掃成像、P掃成像、TOFD成像、導波成像等多能一體;→合成孔徑聚焦技術,領潮行業,提高缺陷
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儀器種類 | 數字式 | 產地類別 | 國產 |
應用領域 | 能源,建材,電子,交通,綜合 |
關鍵詞:BX-G2502高性能便攜式超聲波檢測儀
全自動超聲波探傷儀 超聲波檢測儀 多功能超聲波檢測儀 多用途超聲波檢測儀
■儀器特點:
A 高性能便攜式超聲波檢測儀特優點
→ 全中文菜單式友好操作界面,方便快捷;
→ 亮彩色液晶顯示,可根據不同現場環境改變;
→ 超聲衍射波成像檢測,解決傳統放射檢測的掃查
厚度及檢測效率局限性,節約探傷成本;
→ 集A掃、B掃成像、C掃成像、P掃成像、TOFD成像、
導波成像等多能一體;
→合成孔徑聚焦技術,領潮行業,提高缺陷
測量精度;
→ 波形相位穩定,信噪比高,缺陷識別更清晰;
→ 內置現場檢測工藝模型,自動生成檢測工藝;
→ 便攜掃查器及自動掃查裝置代替手工掃查,滿足各
種工件檢測要求;
→ 多通道TOFD檢測實現大厚壁焊縫一次性覆蓋;
→ 超大機內存儲空間及便捷的文件網絡傳輸功能;
→ 高分子復合材料機身,防震、抗跌落;
→ 集成數據電纜,裝卸方便,信號傳輸損耗小;
→ 高性能安保鋰電,模塊插接,一機兩電,超長續航。
B探傷功能
掃查方式:對焊縫進行非平行、平行掃查
缺陷定位:分析軟件直接讀出缺陷位置、、自身高度
缺陷顯示:直觀顯示缺陷在工件中的位置及上下端點
A型掃描:射頻顯示提高儀器對材料中缺陷模式的評價能力
B掃成像:實時顯示缺陷截面形狀
C掃成像:實時顯示缺陷俯視成像
D掃成像:實時顯示缺陷的灰度掃查圖,直觀顯示缺陷并對
缺陷質量進行評價
P掃成像:實時空氣超聲定位,對缺陷進行三維描述,提高
缺陷判性準確率
導波成像:對薄壁工件進行一維掃查,獲取二維成像
C 掃描范圍
多路TOFD檢測和PE檢測覆蓋200mm厚度以內的分區
掃查;可擴展至400mm厚度。
D 數據分析
直通波去除:近表面缺陷專用處理工具,提高近表缺陷分析精度
橫豎調整:滿足不同現場操作習慣
SAFT:guo際gong認提高缺陷測量精度的功能
E數據存儲與輸出
→預先調校好各類探頭與儀器的組合參數,方便存儲、調出、離線分析、
復驗、打印、通訊傳輸。
→超大內存容量,單次掃查可多記錄40米。
→掃查圖像、文件可根據使用要求自動保存、自動編名。
→支持雙USB拷貝、網絡傳輸、外接顯示器等。
■技術參數:
頻帶寬度:0.3-22MHz
脈沖電壓:-400V
脈沖前沿:<10ns
重復頻率:1000Hz(每通道)
平均次數:8
采樣 :512,1024
匹配阻抗:25,500
檢波方式:數字檢波
增益范圍:0dB-110dB波形顯示方式:射頻波,
檢波(全檢、負或正半檢波),
信號頻譜(FFT)
掃描延時:0~500us可控0.008us精度
掃查定位:時基(內置實時時鐘-0.02秒精度)/真實位置(增量編碼器-0.5mm精度)
成像模式:根據選擇的操作模式和相應的儀器配置及設置顯示連續A掃、B掃成像、C掃成像、TOFD成像、P掃成像、導波成像
直線掃查長度:0-40米
記錄方式:wan全原始數據記錄
離線分析:恢復和回放掃查時記錄的A掃波形
缺陷尺寸測量和輪廓描述
厚度/幅度數據統計分析
記錄轉換到ASCⅡ/MS Word/MS Excel
數據報告:直接打印A掃、頻譜圖、B掃圖象、C掃圖象、TOFD圖象、P掃圖象、導波檢